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硬盘SMART检测参数详解(二)

#技术分享#时间:2018-05-29 阅读:928 回复:0

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01 ( 001 )底层数据读取错误率 Raw Read Error Rate数据为0 或任意值,当前值应远大于与临界值。底层数据读取错误率是磁头从磁盘表面读取数据时出现的错误,对某些硬盘来说,大于0的数据表明磁盘表面或者读写磁头发生问题,如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说, 许多硬盘的这一项会有很大的数据量, 这不代表有任何问题, 主要是看当前值下降的程度。
在固态硬盘中,此项的数据值包含了可校正的错误与不可校正的RAISE 错误( UECC +URAISE )。注: RAISE ( Redundant Array of Independent Silicon Elements )意为独立硅元素冗余阵列,是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术,保证内部有类似RAID 阵列的数据安全性。

02 ( 002 )磁盘读写通量性能 Throughput Performance此参数表示硬盘的读写通量性能, 数据值越大越好。当前值如果偏低或趋近临界值, 表示硬盘存在严重的问题,但现在的硬盘通常显示数据值为0 或根本不显示此项,一般在进行了人工脱机SMART 测试后才会有数据量。

03 ( 003 )主轴起旋时间 Spin Up Time
主轴起旋时间就是主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间, 数据值直接显示时间, 单位为毫秒或者秒,因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说, 这一项仅仅是一个参考值, 硬盘每次的启动时间都不相同,某次启动的稍慢些也不表示就有问题。硬盘的主轴电机从启动至达到额定转速大致需要4 秒~ 15 秒左右, 过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0,这就要看当前值和最差值来判断了。
对于固态硬盘来说, 所有的数据都是保存在半导体集成电路中, 没有主轴电机, 所以这项没有意义,数据固定为0 ,当前值固定为100 。

04 ( 004 )启停计数 Start/Stop Count
这一参数的数据是累计值,表示硬盘主轴电机启动/ 停止的次数,新硬盘通常只有几次,以后会逐渐增加。系统的某些功能如空闲时关闭硬盘等会使硬盘启动/ 停止的次数大为增加,在排除定时功能的影响下,过高的启动/ 停止次数(远大于通电次数0C )暗示硬盘电机及其驱动电路可能有问题。这个参数的当前值是依据某种公式计算的结果,例如对希捷某硬盘来说临界值为20 ,当前值是通过公式“100-(启停计数/1024 ) ”计算得出的。若新硬盘的启停计数为0,当前值为100 - (0/1024) = 100 ,随着启停次数的增加, 该值不断下降, 当启停次数达到81920 次时,当前值为100 - (81920/1024) = 20 ,已达到临界值,表示从启停次数来看,该硬盘已达设计寿命,当然这只是个寿命参考值,并不具有确定的指标性。这一项对于固态硬盘同样没有意义,数据固定为0 ,当前值固定为100 。

05 ( 005 )重映射扇区计数 Reallocated Sectors Count/ 退役块计数 Retired Block Count
数据应为0 ,当前值应远大于临界值。当硬盘的某扇区持续出现读/ 写/ 校验错误时, 硬盘固件程序会将这个扇区的物理地址加入缺陷表(G-list) ,将该地址重新定向到预先保留的备用扇区并将其中的数据一并转移,这就称为重映射。执行重映射操作后的硬盘在Windows 常规检测中是无法发现不良扇区的, 因其地址已被指向备用扇区,这等于屏蔽了不良扇区。这项参数的数据值直接表示已经被重映射扇区的数量, 当前值则随着数据值的增加而持续下降。当发现此项的数据值不为零时,要密切注意其发展趋势,若能长期保持稳定,则硬盘还可以正常运行;若数据值不断上升,说明不良扇区不断增加, 硬盘已处于不稳定状态,应当考虑更换了。如果当前值接近或已到达临界值(此时的数据值并不一定很大, 因为不同硬盘保留的备用扇区数并不相同),表示缺陷表已满或备用扇区已用尽,已经失去了重映射功能, 再出现不良扇区就会显现出来并直接导致数据丢失。
这一项不仅是硬盘的寿命关键参数, 而且重映射扇区的数量也直接影响硬盘的性能, 例如某些硬盘会出现数据量很大, 但当前值下降不明显的情况, 这种硬盘尽管还可正常运行, 但也不宜继续使用。因为备用扇区都是位于磁盘尾部(靠近盘片轴心处) ,大量的使用备用扇区会使寻道时间增加,硬盘性能明显下降。这个参数在机械硬盘上是非常敏感的, 而对于固态硬盘来说同样具有重要意义。闪存的寿命是正态分布的,例如说MLC 能写入一万次以上,实际上说的是写入一万次之前不会发生“批量损坏”,但某些单元可能写入几十次就损坏了。换言之,机械硬盘的盘片不会因读写而损坏,出现不良扇区大多与工艺质量相关, 而闪存的读写次数则是有限的, 因而损坏是正常的。所以固态
硬盘在制造时也保留了一定的空间, 当某个存储单元出现问题后即把损坏的部分隔离, 用好的部分来顶替。这一替换方法和机械硬盘的扇区重映射是一个道理, 只不过机械硬盘正常时极少有重映射操作,而对于固态硬盘是经常性的。在固态硬盘中这一项的数据会随着使用而不断增长, 只要增长的速度保持稳定就可以。通常情况下, 数据值= 100 -( 100× 被替换块/ 必需块总数) ,因此也可以估算出硬盘的剩余寿命。
Intel 固态硬盘型号的第十二个字母表示了两种规格,该字母为1 表示第一代的50 纳米技术的SSD ,为2 表示第二代的34 纳米技术的SSD ,如SSDSA2M160G2GN 就表示是34nm的SSD 。所以参数的查看也有两种情况:50nm 的SSD (一代)要看当前值。这个值初始是100 ,当出现替换块的时候这个值并不会立即变化, 一直到已替换四个块时这个值变为1 ,之后每增加四个块当前值就+ 1。也就是100对应0 ~ 3 个块, 1 对应4 ~ 7 个块, 2 对应8 ~11 个块⋯⋯34nm 的SSD (二代)直接查看数据值,数据值直接表示有多少个被替换的块。

06 ( 006 )读取通道余量 Read Channel Margin
这一项功能不明,现在的硬盘也不显示这一项。

07 ( 007 )寻道错误率 Seek Error Rate
数据应为0 ,当前值应远大于与临界值。这一项表示磁头寻道时的错误率, 有众多因素可导致寻道错误率上升, 如磁头组件的机械系统、伺服电路有局部问题,盘片表面介质不良,硬盘温度过高等等。通常此项的数据应为0 ,但对希捷硬盘来说, 即使是新硬盘, 这一项也可能有很大的数据量,这不代表有任何问题,还是要看当前值是否下降。

08 ( 008 )寻道性能 Seek Time Performance
此项表示硬盘寻道操作的平均性能(寻道速度),通常与前一项(寻道错误率)相关联。当前值持续下降标志着磁头组件、寻道电机或伺服电路出现问题, 但现在许多硬盘并不显示这一项。

09 ( 009 )通电时间累计 Power-On Time Count (POH)
这个参数的含义一目了然, 表示硬盘通电的时间, 数据值直接累计了设备通电的时长, 新硬盘当然应该接近0 ,但不同硬盘的计数单位有所不同,有以小时计数的,也有以分、秒甚至30秒为单位的,这由磁盘制造商来定义。这一参数的临界值通常为0 ,当前值随着硬盘通电时间增加会逐渐下降, 接近临界值表明硬盘已接近预计的设计寿命, 当然这并不表明硬盘将出现故障或立即报废。参考磁盘制造商给出的该型号硬盘的MTBF (平均无故障时间)值,可以大致估计剩余寿命或故障概率。
对于固态硬盘, 要注意“设备优先电源管理功能( device initiated power management ,DIPM )”会影响这个统计:如果启用了DIPM ,持续通电计数里就不包括睡眠时间;如果关闭了DIPM 功能,那么活动、空闲和睡眠三种状态的时间都会被统计在内。



曾经深爱过,可现在流光了属于妳的眼泪。
我以为感动了妳,结果醒来时只是我的梦。
血流不止,疼痛难忍,可我不会告诉妳这感受。
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