请选择 进入手机版 | 继续访问电脑版
发帖
开启辅助访问
 找回密码
 立即注册
取消
搜索
热搜:
活动 交友 discuz
分享到

硬盘SMART检测参数详解(三)

#技术分享#时间:2018-05-29 阅读:1250 回复:2

34

主题

49

帖子

420

积分

激昂青云

积分
420

发帖小能手云子功臣发帖小霸王云子元老

本帖最后由 牛奶男生 于 2018-5-29 12:00 编辑

0A ( 010 )主轴起旋重试次数 Spin up Retry Count
数据应为0 ,当前值应大于临界值。主轴起旋重试次数的数据值就是主轴电机尝试重新启动的计数, 即主轴电机启动后在规定的时间里未能成功达到额定转速而尝试再次启动的次数。数据量的增加表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题,整机供电不足也会导致这一问题。

0B ( 011 )磁头校准重试计数 Calibration Retry Count
数据应为0 ,当前值应远大于与临界值。硬盘在温度发生变化时,机械部件(特别是盘片)会因热胀冷缩出现形变, 因此需要执行磁头校准操作消除误差, 有的硬盘还内置了磁头定时校准功能。这一项记录了需要再次校准(通常因上次校准失败)的次数。这一项的数据量增加, 表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题, 但有些型号的新硬盘也
有一定的数据量,并不表示有问题,还要看当前值和最差值。

0C ( 012 )通电周期计数 Power Cycle Count
通电周期计数的数据值表示了硬盘通电/ 断电的次数,即电源开关次数的累计,新硬盘通常只有几次。这一项与启停计数( 04 )是有区别的,一般来说,硬盘通电/ 断电意味着计算机的开机与关机,所以经历一次开关机数据才会加1 ;而启停计数( 04 )表示硬盘主轴电机的启动/ 停止(硬盘在运行时可能多次启停, 如系统进入休眠或被设置为空闲多少时间而关闭) 。所以大多情况下这个通电/ 断电的次数会小于启停计数( 04 )的次数。通常,硬盘设计的通电次数都很高,如至少5000 次,因此这一计数只是寿命参考值,本身不具指标性。

0D ( 013 )软件读取错误率 Soft Read Error Rate
软件读取错误率也称为可校正的读取误码率,就是报告给操作系统的未经校正的读取错误。数据值越低越好,过高则可能暗示盘片磁介质有问题。

AA (170 )坏块增长计数 Grown Failing Block Count ( Micron 镁光)读写失败的块增长的总数。
AB ( 171 )编程失败块计数 Program Fail Block Count
Flash 编程失败块的数量。

AC ( 172 )擦写失败块计数 Erase Fail Block Count
擦写失败块的数量。

AD( 173 )磨损平衡操作次数(平均擦写次数) / Wear Leveling Count ( Micron 镁
光)
所有好块的平均擦写次数。Flash 芯片有写入次数限制,当使用FAT 文件系统时,需要频繁地更新文件分配表。如果闪存的某些区域读写过于频繁, 就会比其它区域磨损的更快, 这将明显缩短整个硬盘的寿命(即便其它区域的擦写次数还远小于最大限制)。所以,如果让整个区域具有均匀的写入量,就可明显延长芯片寿命,这称为磨损均衡措施。

AE( 174 )意外失电计数 Unexpected Power Loss Count
硬盘自启用后发生意外断电事件的次数。

B1 (177 )磨损范围对比值 Wear Range Delta
磨损最重的块与磨损最轻的块的磨损百分比之差。

B4 ( 180 )未用的备用块计数 Unused Reserved Block Count Total
(惠普)固态硬盘会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元, 所以可用的预留空间数非常重要。这个参数的当前值表示的是尚未使用的预留的存储单元数量。

B5 ( 181 )编程失败计数 Program Fail Count
用4 个字节显示已编程失败的次数,与( AB )参数相似。


B5 ( 181 )非4KB 对齐访问数 Non-4k Aligned Access ( Micron 镁光)

B6 ( 182 )擦写失败计数 Erase Fail Count
用4 个字节显示硬盘自启用后块擦写失败的次数,与(AC )参数相似。


B7 ( 183 )串口降速错误计数 SATA Downshift Error Count
这一项表示了SATA 接口速率错误下降的次数。通常硬盘与主板之间的兼容问题会导致SATA 传输级别降级运行。


B8( 184 )I/O 错误检测与校正 I/O Error Detection and Correction ( IOEDC )
“I/O 错误检测与校正”是惠普公司专有的SMART IV 技术的一部分,与-云子可信-制造商的I/O错误检测和校正架构一样, 它记录了数据通过驱动器内部高速缓存RAM 传输到主机时的奇偶校验错误数量。


B8 ( 184 )点到点错误检测计数 End to End Error Detection Count
Intel 第二代的34nm 固态硬盘有点到点错误检测计数这一项。固态硬盘里有一个LBA(logical block addressing ,逻辑块地址)记录,这一项显示了SSD 内部逻辑块地址与真实物理地址间映射的出错次数。



B8 ( 184 )原始坏块数 Init Bad Block Count ( Indilinx 芯片)
硬盘出厂时已有的坏块数量。


B9 ( 185 )磁头稳定性 Head Stability (西部数据)
意义不明。


BA ( 186 )感应运算振动检测 nduced Op-Vibration Detection (西部数据)
意义不明。


BB ( 187 )无法校正的错误 Reported Uncorrectable Errors (希捷)
报告给操作系统的无法通过硬件ECC 校正的错误。如果数据值不为零,就应该备份硬盘上的数据了。报告给操作系统的在所有存取命令中出现的无法校正的RAISE (URAISE )错误。


BD ( 189 )高飞写入 High Fly Writes
磁头飞行高度监视装置可以提高读写的可靠性, 这一装置时刻监测磁头的飞行高度是否在正常范围来保证可靠的写入数据。如果磁头的飞行高度出现偏差, 写入操作就会停止, 然后尝试重新写入或者换一个位置写入。这种持续的监测过程提高了写入数据的可靠性, 同时也降低了读取错误率。这一项的数据值就统计了写入时磁头飞行高度出现偏差的次数。


BD ( 189 )出厂坏块计数 Factory Bad Block Count ( Micron 镁光芯片)

BE ( 190 )气流温度 Airflow Temperature
这一项表示的是硬盘内部盘片表面的气流温度。在希捷公司的某些硬盘中,当前值= ( 100-当前温度),因此气流温度越高,当前值就越低,最差值则是当前值曾经到达过的最低点,临界值由制造商定义的最高允许温度来确定, 而数据值不具实际意义。许多硬盘也没有这一项参数。


BF ( 191 )冲击错误率 G-sense error rate
这一项的数据值记录了硬盘受到机械冲击导致出错的频度。

曾经深爱过,可现在流光了属于妳的眼泪。
我以为感动了妳,结果醒来时只是我的梦。
血流不止,疼痛难忍,可我不会告诉妳这感受。
回复
使用道具 举报

1

主题

17

帖子

177

积分

游客

积分
177

云子元老

Kevin.F| 2018-5-29 12:41:17 | 显示全部楼层
感谢分享~
回复
使用道具 举报

174

主题

255

帖子

5386

积分

管理员

Rank: 9Rank: 9Rank: 9

积分
5386
support| 2018-5-29 12:53:07 | 显示全部楼层
对硬盘很有研究呀~
回复
使用道具 举报
快速回复
您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册

本版积分规则

    34

    主题

    49

    帖子

    420

    积分

    激昂青云

    积分
    420

    发帖小能手云子功臣发帖小霸王云子元老

发私信

TA 的相关文章

    热门活动

      【召集令】加入推荐达人计划,推荐成功至少
    客服电话
    173-6185-1240
    发布 快速回复 返回顶部 返回列表